Detail předmětu

Diagnostické metody v elektrotechnice

FEKT-MPC-DMEAk. rok: 2025/2026

Diagnostické metody pro stanovení vlastností a parametrů materiálů používaných nejen v elektrotechice. Mikroskopické, spektroskopické a difraktometrické diagnostické metody, fyzikální principy a použití. Diagnostické metody pro stanovení vlastností polovodičových desek a struktur, kontaminace a poruch polovodičových materiálů. Zpracování a vyhodnocení naměřených údajů.

Jazyk výuky

čeština

Počet kreditů

6

Garant předmětu

Ing. Pavel Čudek, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Ústav elektrotechnologie (UETE)

Vstupní znalosti

Znalost matematiky a fyziky na úrovni bakaláře studujícího magisterský obor na technické vysoké škole.

Práce v laboratoři je podmíněna platnou kvalifikací „pracovníka znalého pro samostatnou činnost“, kterou musí studenti získat před zahájením výuky. Informace k této kvalifikaci jsou uvedeny ve Směrnici děkana Seznámení studentů s bezpečnostními předpisy.

 

Pravidla hodnocení a ukončení předmětu

Až 40 bodů v průběhu semestru (30 bodů za laboratorní cvičení a 10 bodů za prezentaci samostatné práce)

Až 60 bodů za ústní zkoušku

Povinná účast ve výuce.

Zkouška je zaměřena na ověření znalostí a orientaci v oblasti diagnostických metod.

 

Učební cíle

Cílem předmětu je seznámit studenty s různými diagnostickými metodami. Studenti se seznámí s diagnostikou elektrochemických zdrojů elektrické energie na bázi Li-Ion, s diagnostikou materiálů metodami rastrovací elektronové mikroskopie, resp. environmentální rastrovací elektronové mikroskopie, energiově disperzní spektroskopie, optické mikroskopie, mikroskopie rastrujícím hrotem a rentgenové difrakce. Získají informace o různých fyzikálních metodách používaných pro stanovení fyzikálních vlastností, parametrů, struktur a chemického složení různých materiálů.

Základní literatura

Frank,L., Král,J.: Metody analýzy povrchů. Iontové, sondové a speciální metody. Academia, Praha,2002 (CS)
Ifan Hughes, Thomas Hase; Measurements and their Uncertainties: A practical guide to modern error analysis; Oxford University Press; 2010 (CS)
Jirák, J., Havlíček, S., Rozsívalová, Z.: Diagnostika a zkušebnictví. Elektronické texty, Brno 2002. (CS)
Koblížek,V. Měření a kontrola v elektrotechnologii ČVUT Praha,1991. (CS)
OĆonnor, D.J. and others: Surface Analysis Methods in Materials Science. Springer Berlin 2003. ISBN0931-5195 (EN)
Reimer,L.:Scanning electron microscopy,Springer Verlag Berlin,2005 (EN)
Van Zant, P.: Microchip fabrication. Fourth edition. McGraw-Hill Publication. New York, 2000. (EN)

Doporučená literatura

Mentlík, V., Pihera, J. a kol.: Diagnostika elektrických zařízení. BEN 2008, ISBN 978-80-7300-2 (CS)

Elearning

eLearning: aktuální otevřený kurz

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program MPC-EEN magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
  • Program MPC-EVM magisterský navazující 2 ročník, zimní semestr, povinný, je součástí profilujícího základu
  • Program MPC-TIT magisterský navazující 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program NMSP-RRTES magisterský navazující

    specializace RRTS , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

Typ (způsob) výuky

 

Přednáška

26 hod., nepovinná

Vyučující / Lektor

Ing. Ondřej Čech, Ph.D.
Ing. Pavel Čudek, Ph.D.
Ing. Kamil Jaššo, Ph.D.
Ing. Kristýna Jandová, Ph.D.

Osnova

Diagnostika a zkušebnictví. Organizace zkušebnictví a certifikace v ČR a v Evropské unii. Přehled diagnostických metod.
Diagnostické metody spojené se stanovením vlivu provozních podmínek na vlastnosti materiálů.
Diagnostické metody pro stanovení elektrických vlastností polovodičových desek a struktur. 
Mikroskopické techniky, metody AFM, AES, ESCA, SIMS.
Diagnostické metody založené na interakci elektronů s pevnou látkou. Elektronová optika, rozlišovací schopnost, hloubka ostrosti. Rozptyl, difúze elektronů.
Diagnostické metody založené na interakci elektronů s pevnou látkou. Emise elektronů a rentgenového záření. Zpětně odražené a sekundární elektrony.
Diagnostické metody založené na interakci elektronů s pevnou látkou. Detekce a zpracování signálů, zobrazení pomocí zpětně odražených a sekundárních elektronů.
Diagnostické metody založené na interakci elektronů s pevnou látkou. Difrakční metody pro analýzu krystalové struktury. Prvková analýza.
Statistická analýza jednorozměrných dat. Výběrové charakteristiky. Bodový a intervalový odhad parametrů normálního, exponenciálního a Weibullova rozdělení.

Laboratorní cvičení

39 hod., povinná

Vyučující / Lektor

Ing. Antonín Šimek
Ing. Pavel Čudek, Ph.D.
Ing. Ondřej Čech, Ph.D.
Ing. David Trochta

Osnova

Diagnostika elektroizolačních materiálů a systémů na základě vyhodnocení absorpčních charakteristik.
Diagnostika elektroizolačních materiálů a systémů na základě vyhodnocení složek komplexní permitivity při kmitočtu 50 Hz a při vysokém napětí.
Diagnostika elektroizolačních materiálů a systémů na základě vyhodnocení složek komplexní permitivity při středních a vysokých kmitočtech.
Rastrovací elektronová mikroskopie, sledování vzorků jednotlivými typy detektorů, vyhodnocení získaných informací.
Práce na rentgenovém mikroanalyzátoru. Kvalitativní vyhodnocení spekter.

Elearning

eLearning: aktuální otevřený kurz